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NI CLAD日本語 問題集

CLAD日本語
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試験コード:CLAD-JP

試験名称:Certified LabVIEW Associate Developer Examination (CLAD日本語版)

最近更新時間:2024-11-14

問題と解答:全80問

CLAD日本語 無料でデモをダウンロード:

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追加した商品:"PDF版"
価格: ¥6599 

無料問題集CLAD日本語 資格取得

質問 1:

A. Option E
B. Option A
C. Option C
D. Option D
E. Option B
正解:E

質問 2:

A. Option A
B. Option C
C. Option D
D. Option B
正解:B

質問 3:

A. Option A
B. Option C
C. Option D
D. Option B
正解:B

質問 4:


A. A 1-D array of {1, 8, 0, 1, 2, 2, 9}
B. A 1-D array of {1, 4, 3, 2, 1, 0}
C. A 1-D array of {1, 8, 0, 1, 2, 3, 4, 6, 2}
D. A 1-D array of {1, 4, 3, 2, 1, 0, 8, 6, 2}
正解:D

質問 5:


A. Parallel Loop VI
B. General VI
C. Multiple Case Structure VI
D. State Machine VI
正解:D

質問 6:


A. 10
B. 24
C. 32
D. 16
正解:C

質問 7:

A. Option A
B. Option C
C. Option D
D. Option B
正解:D

質問 8:

A. Option A
B. Option C
C. Option D
D. Option B
正解:B

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NI CLAD日本語 認定試験の出題範囲:

トピック出題範囲
トピック 1
  • Recognize data types on the block diagram from terminals and wires
  • Configure the subVI connector pane using best practices
トピック 2
  • Create, manipulate, analyze,and use cluster data in common scenarios
  • Recognize data typeson the front panel
トピック 3
  • Create Type Defs and use Type Defs in multiple places
  • Use libraries and appropriate types of folders
トピック 4
  • Determining the last value output
  • Navigating LabVIEW help to get more information about inputs, outputs, andfunctions
トピック 5
  • Troubleshooting by identifying and correctingthe cause of a broken arrow or incorrect data
  • Retain data in shift registers

参照:http://sine.ni.com/nips/cds/view/p/lang/en/nid/14438

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CLAD日本語 関連試験
CLAD - Certified LabVIEW Associate Developer Examination
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